- 两箱冷热冲击试验箱
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一、两箱冷热冲击试验箱简介:
冷热冲击试验箱根据待测试样品的特殊性,分为两箱式动态冲击试验机和三箱式静态冲击试验机(提篮式与半封闭式),本设备可做冷热冲击,也可以做单独高温试验或低温试验。广泛应用于航空航天、电子电工、仪器仪表、汽车、通讯、集成电路、半导体等领域,可发现产品潜在缺陷,做应力筛选试验,提高产品的可靠性和进行产品质量控制。
二、冷热冲击试验机技术参数:
型号
BS-40H
BS-80H
BS-100H
BS-150H
BS-252H
BS-450H
内箱尺寸W*H*D(mm)
400*350*300
500*400*400
500*450*450
600*500*500
700*600*600
800*750*750
外箱尺寸W*H*D(mm)
1100*1930*1450
1200*2000*1550
1500*1950*1600
1300*1230*1670
1750*2120*1970
1900*2270*2210
重量(KG)
700
900
1100
1200
1400
1900
温度范围
(A-45℃ B-55℃ C-65℃ 高温区: 60℃-150℃ 低温区:-10℃--65℃ )
升温时间(蓄热区)
RT-200℃约35min
降温时间(蓄冷区)
RT—70℃约55min
温度回复/切换时间
≤5min / ≤5sec以内
温度精度/分布精度
±0.5℃ ±2.5% ℃
冷却方式
风、水冷式/双断压缩机
电源
AC380V ±10%V 50HZ/60HZ
三、两箱冷热冲击试验箱满足标准:
1. GJB150.5A-2009温度冲击试验
2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009温度冲击试验
3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971电工电子产品环境试验
第2部分:试验方法温度变化试验导则
4. GJB360B-2009温度冲击试验
5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验A:低温
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2:2007 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
7.GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件
8.GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件