型号：
更新时间：2025-03-07 | 阅读：1229
详情介绍
一、微电子用高低温试验机简介：
适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、车辆、金属、电子产品、各种电子元气件在高低温环境下、检验其各性能项指标及质量管理之用。
二、微电子用高低温试验机技术参数
型号 | BS-80D | BS-150D | BS-225D | BS-408D | BS-608D | BS-800D | BS-010D |
内箱尺寸W*H*D(mm) | 400*500*500 | 500*600*500 | 500*750*600 | 600*850*800 | 800*950*800 | 1000*1000*800 | 1000*1000*1000 |
外箱尺寸W*H*D(mm) | 600*1650*1100 | 700*1700*1200 | 700*1850*1300 | 800*1950*1500 | 1000*2050*1500 | 1200*2100*1500 | 1000*1000*1000 |
温度范围 | -70-+100℃（150℃） （A10℃ B0℃ C-20℃ D-40℃ E-50℃ F-60℃ G-70℃） | ||||||
温度解析度/均匀度 | 0.01℃ ±1℃ | ||||||
温度控制精度/波动度 | ±1℃ ±0.5℃ | ||||||
升温/降温时间 | 约3℃/min 约1℃/min （其他条件可定制） | ||||||
电源 | AC220V+±10%V 50HZ/60HZ AC380V+±10%V 50HZ/60HZ | ||||||
三、高低温试验机满足标准：
1. GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验A：低温
2. GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
3. GJB150.3A－2009 高温试验方法
4. GJB150.4A－2009 低温试验方法
5. GB2423.22-2008电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验Nb：规定温度变化速率的温度变化
关闭
电话
询价
