- 电子元件冷热冲击试验机
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一、电子元件冷热冲击试验机简介
该系列产品适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、车辆、金属、电子产品、各种电子元气件、电线、电缆等在高低温快速交变环境下,确定组件、设备和其他产品经受环境温度迅速变化的能力.
二、电子元件冷热冲击试验机技术参数:
型号
BS-40H
BS-80H
BS-150H
BS-200H
BS-252H
内箱尺寸W*H*D(mm)
400*350*300
500*400*400
600*500*500
600*600*550
700*600*600
外箱尺寸W*H*D(mm)
1100*1930*1450
1200*2000*1550
1300*1230*1670
1300*2500*1700
1400*2630*1750
重量(KG)
500
700
900
1100
1300
温度范围
(A-45℃ B-55℃ C-65℃ 高温区:+60℃-150℃ 低温区:-10℃--65℃ )
升温时间(蓄热区)
RT-200℃约35min
降温时间(蓄冷区)
RT—70℃约55min
温度回复/切换时间
≤5min / ≤10sec以内
温度精度/分布精度
±0.5℃ ±2.5% ℃
冷却方式
风、水冷式/双断压缩机
电源
AC380V+±10%V 50HZ/60HZ
三、冷热冲击试验箱执行与满足标准:
1、GB/T2423.1-2001低温试验方法;
2、GB/T2423.2-2001;
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N;
4. 国GJB150.3-86;
5. 国GJB150.4-86;
6. 国GJB150.5-86;
7、GJB150.5-86温度冲击试验;
8、GJB360.7-87温度冲击试验;
9、GJB367.2-87 405温度冲击试验;
10、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式;
11、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式;
12、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;